冷鏡式露點(diǎn)儀的正確使用及操作注意事項(xiàng)
更新時(shí)間：2017-01-16 點(diǎn)擊次數(shù)：4084
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，各行各業(yè)對(duì)各種氣體的要求越來(lái)越高，特別是氣體中微量水分的測(cè)量就顯得更加重要。 露點(diǎn)法是一種古老的溫度測(cè)量方法、隨著電子技術(shù)的發(fā)展，露點(diǎn)技術(shù)趨于完善?，F(xiàn)代的光點(diǎn)露點(diǎn)儀采用熱電制冷，并且可以自動(dòng)補(bǔ)償零點(diǎn)和連續(xù)跟蹤測(cè)量露點(diǎn)。露點(diǎn)儀建立在可靠的理論基礎(chǔ)上，具有準(zhǔn)確度高，測(cè)量范圍寬的特點(diǎn)，其準(zhǔn)確度僅次于重量法濕度計(jì)。因此，它不僅是一種工作儀器，而且也是長(zhǎng)期以來(lái)普遍采用的標(biāo)準(zhǔn)儀器。露點(diǎn)儀廣泛用于工業(yè)過程和實(shí)驗(yàn)室的溫度測(cè)量與控制，以及氣體行業(yè)中水分指標(biāo)測(cè)量等。在現(xiàn)代溫度測(cè)量技術(shù)中占有相當(dāng)重要的位置。 如何正確使用露點(diǎn)儀以及在實(shí)際測(cè)量中應(yīng)注意的問題：
1. 鏡面的污染對(duì)露點(diǎn)測(cè)量的影響 在露點(diǎn)測(cè)量中，鏡面污染是一個(gè)突出的問題，特別是工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴(yán)重的，但即使是在純氣體的測(cè)量中鏡面的污染亦會(huì)隨時(shí)間的增加而積累。為了消除污染的影響，zui直觀的方法是對(duì)被測(cè)氣體進(jìn)行過濾。同時(shí)根據(jù)具體情況定期或隨時(shí)清洗鏡面。此外，通過對(duì)鏡面的加熱，并通氣吹除污染雜物，在污染比較明顯的情況下也可以多次重復(fù)進(jìn)行節(jié)露和消露過程來(lái)實(shí)現(xiàn)。
2. 低霜點(diǎn)測(cè)量中的問題 露點(diǎn)儀是微量水測(cè)量中為數(shù)不多的zui有效的手段之一。但是在測(cè)量中有些問題必須給予充分的注意。首先是影響檢測(cè)的霜層厚度問題。在低含水量的情況下，霜層很薄，變化也慢，增加了檢霜的困難，如露點(diǎn)低于-65℃，鏡面上水分子移動(dòng)性很小，結(jié)晶速度相應(yīng)下降，從霜層的出現(xiàn)到相對(duì)穩(wěn)定需要一定時(shí)間。霜點(diǎn)溫度越低，困難越大，測(cè)量誤差也迅速增加。
研究表明，當(dāng)霜點(diǎn)溫度接近-85℃是鏡面上形成藍(lán)色絲狀結(jié)晶的薄霧。在這個(gè)溫度附近霜層的質(zhì)量密度10-8gm-2相當(dāng)于一個(gè)分子層的厚度，由此可見，在更低的霜點(diǎn)溫度下測(cè)量是難以進(jìn)行的。
另一個(gè)是過程問題，這種現(xiàn)象容易在高空探測(cè)中發(fā)生。 在低溫下，由于冰的結(jié)晶過程緩慢，往往在達(dá)到霜點(diǎn)溫度時(shí)霜層還未出現(xiàn)，當(dāng)溫度繼續(xù)降低，水開始結(jié)冰，在過飽和狀態(tài)下霜層迅速形成。但此時(shí)的飽和水氣壓不是冰而應(yīng)該是過冷水的飽和水氣壓，如上所述，由于過冷現(xiàn)象，霜點(diǎn)測(cè)量誤差有時(shí)高達(dá)幾度，因此，低霜點(diǎn)測(cè)量要特別小心，保持足夠長(zhǎng)的平衡時(shí)間。
除上所述還需注意下列幾個(gè)問題。 ü 氣路系統(tǒng)一定要密封性好，以防止外界環(huán)境水分往里滲漏 ü 如果被測(cè)氣體直接排放入大氣，應(yīng)考慮大氣中的水分向測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)部擴(kuò)散的問題，zui常用的辦法時(shí)在排氣口接上一段適當(dāng)長(zhǎng)的管子，其長(zhǎng)度個(gè)管徑以不影響測(cè)量腔的壓力為原則。 ü 取樣管要盡量短，盡量減少接頭的數(shù)量和避免“死空間”，以減少本底水分的干擾。 ü 取樣管道要選用滲水性強(qiáng)的材料，如不銹鋼，聚四氟乙烯等。
