鏡面污染對露點(diǎn)測量的影響：

鏡面污染影響主要表現(xiàn)在兩個(gè)方面；一是拉烏爾效應(yīng)，二是改變鏡面本底放射水平。拉烏爾效應(yīng)是由水溶性物質(zhì)造成的。如果被測氣體中攜帶這種物質(zhì)(一般是可溶性鹽類)則鏡面提前結(jié)露，使測量結(jié)果產(chǎn)生正偏差。若污染物是不溶于水的微粒，如灰塵等，則會增加本底的散射水平，從而使光電露點(diǎn)儀發(fā)生零點(diǎn)漂移。此外，一些沸點(diǎn)比水低的容易冷凝的物質(zhì)(例如有機(jī)物)的蒸氣，不言而喻將對露點(diǎn)的測量產(chǎn)生干擾。因此，無論任何一種類型的露點(diǎn)儀都應(yīng)防止污染鏡面。一般說來，工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴(yán)重的。但即使是在純氣的測量中鏡面的污染亦會隨時(shí)間增加而積累。

傳統(tǒng)的氧化鋁電容式露點(diǎn)儀有兩個(gè)不足：一是傳感器的響應(yīng)層厚度一般為1000納米，受此限制，此類傳感器響應(yīng)時(shí)間很慢，尤其在低濕時(shí)響應(yīng)更慢。二是隨著時(shí)間推移，氧化鋁經(jīng)過緩慢轉(zhuǎn)換過程會變成氫氧化鋁，從而導(dǎo)致露點(diǎn)儀產(chǎn)生標(biāo)定漂移，因而傳統(tǒng)的氧化鋁電容式露點(diǎn)儀需要頻繁地校準(zhǔn)。斯多克露點(diǎn)儀是世界上電容式露點(diǎn)儀的一大進(jìn)步，采用經(jīng)專門研發(fā)的雙陶瓷納米薄層替代傳統(tǒng)的氧化鋁，比傳統(tǒng)的氧化鋁電容式露點(diǎn)儀響應(yīng)更快速也更穩(wěn)定。采用僅24納米厚的超薄響應(yīng)層，意味著響應(yīng)時(shí)間要遠(yuǎn)快于競爭對手，面對更高的氣體溫度時(shí)傳感器也更具穩(wěn)定性。